1、試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住,形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔,試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流,使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn);
2、可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件,將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
應(yīng)用:
測(cè)試components, MCMs, modules, PCBs, assemblies
用來替代液氮
對(duì)設(shè)計(jì)的驗(yàn)證
失效分析
高低溫沖擊
Thermal fixtures
對(duì)Tester Handler的溫度控制