JX-2000A圖像分析系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成。因?yàn)榉垠w形態(tài)各異，在借助激光粒度儀測(cè)試的同時(shí)，選用JX-2000A型顆粒圖像分析儀，可以更準(zhǔn)確的直觀粒度形貌，控制好產(chǎn)品質(zhì)量。

粉體顆粒經(jīng)顯微鏡放大數(shù)倍，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸?shù)诫娔X，在電腦上直接觀察粉體顆粒的原始形貌，通過專有軟件計(jì)算分析，得到顆粒個(gè)數(shù)、面積、周長(zhǎng)、直徑、體積、長(zhǎng)徑比、短徑比、圓度系數(shù)等分布數(shù)據(jù)及圖像，同時(shí)提供D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數(shù)據(jù)分布圖表。 

測(cè)試原理

顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的單位是像素，每個(gè)像素有特定的尺寸。通過對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等面積圓的直徑，以及長(zhǎng)徑比等，再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布等信息。

應(yīng)用領(lǐng)域

顯微顆粒圖像分析儀主要用于觀察顆粒形貌，分析顆粒粒度分布，監(jiān)測(cè)樣品是否存在大顆粒或異常顆粒等，為控制產(chǎn)品質(zhì)量提供有效的數(shù)據(jù)支持。

?磨料：金剛石、碳化硅、白剛玉、石榴石等；

?球形：玻珠、鋁粉、凝膠顆粒、球形石墨、球形合金粉等；

?針狀：硅灰石、藥粉等；

?其他金屬粉、非金屬粉、食品等；

?用于科研教學(xué)，以及驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的準(zhǔn)確性。